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TE173锯齿效应测试卡

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产品名称: TE173锯齿效应测试卡
产品型号:
产品展商: 三恩驰3NH
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简单介绍

TE173锯齿效应测试卡设计用于测量锯齿。 TE173锯齿效应测试卡由矩形条组成,其空间频率取决于所使用的图像宽度。


TE173锯齿效应测试卡  的详细介绍

TE173锯齿效应测试卡

测试卡介绍

锯齿效应测试卡TE173设计用于测量锯齿。测试卡由矩形条组成,其空间频率取决于所使用的图像宽度。

锯齿效应是由两个光栅的干涉引起的moiré失真。独立于相机类型,锯齿效应可能由于动态光栅和TV线结构的干扰而产生。众所周知的百叶帘效应或纺织条纹图案。

CCD相机具有由空间图像采样引起的特殊的内在混叠问题。在相机输出处获得的信号的频谱受到在CCD采样频率的倍数周围重复的基本频谱的损害。 CCD采样频率取决于CCD尺寸和每个CCD宽度的像素数量。对于图像的一些高空间频率,不满足由采样定理规定的条件,使得基本频谱和复制频谱可以被叠加并且引起频率间跳动。结果就是在图片中的摩尔纹。

摩尔纹的可视性取决于分析仪的类型,相机的低通光学滤波以及所分析的测试图案的空间频率。

在图像区域的顶部和底部绘制有水平线,在该水平线上要进行的框架标记,以便通过缩放来修改由照相机看到的空间频率。


可以使用频谱分析仪或宽带视频示波器进行测量程序。

测量条件

伽玛校正:关闭

轮廓校正:关闭

颜色校正:打开

频谱分析仪测量

测量原理在于,在亮度信号Y或编码Y的光谱分析上,依次定位RGB;干扰线由采样产生。照相机在给定的空间频率下在测试图上对准。摄像机输出与频谱分析仪的输入相连。调整光圈,使得白电平对应于700mV / 75欧姆的视觉信号。基座设置为0mV

如果水平CCD像素的数量是已知的,则可以计算容易位于分析仪屏幕上的采样频率:

采样FMHz=水平像素数/ 52

干扰线的频率由采样频率和测试模式频率之间的差给出:

干扰F =采样F — 测试模式F

测量涉及确定测试图案频率处的有用信号与干扰频率处的信号之间的电平差。必须对每个空间频率重复测量并进行几次(约10次)以确定平均结果。

 

TE173锯齿效应测试卡参数:

型号

TE173

尺寸

可定制

材料

高清相纸/菲林

类型

反射式/透射式可选

比例

4:3/16:9

 

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